Na rysunku zamieszczono strukturę logiczną testowanego urządzenia oraz wyniku pomiarów z których wynika, że uszkodzona jest bramka logiczna

Wyjaśnienie

Wskazanie bramki NAND jest tutaj najbardziej logiczne, bo pomiary trzeba porównać z tabelą prawdy, a nie tylko patrzeć na końcowy stan wyjścia. Bramka NAND realizuje funkcję $Y=\overline{A \cdot B}$, czyli daje 0 tylko wtedy, gdy oba wejścia mają stan 1. Dla wejść 0 i 1 wynik powinien być równy 1, ponieważ $0 \cdot 1=0$, a negacja zera daje 1. Na rysunku przy jednej z bramek NAND zmierzono jednak na wyjściu stan 0, co nie pasuje do jej poprawnego działania. To właśnie wskazuje uszkodzenie tej bramki, a nie dalszych elementów układu. Inwerter za nią działa zgodnie z tym, co dostaje na wejściu: z 0 robi 1. Bramka EX-OR też daje poprawny wynik dla swoich sygnałów wejściowych, bo dla różnych stanów na wejściach jej wyjście wynosi 1. Moim zdaniem to dobry przykład, że w diagnostyce układów cyfrowych trzeba iść krok po kroku od wejść do wyjścia, sprawdzając każdy węzeł. W praktyce używa się do tego sondy logicznej, oscyloskopu albo analizatora stanów logicznych. Dobrą praktyką, zgodną z podejściem spotykanym w dokumentacji układów TTL/CMOS oraz symbolice IEC/IEEE, jest sprawdzanie nie tylko wartości 0/1, ale też poziomów napięć VIH i VIL, zasilania, masy oraz ewentualnego przeciążenia wyjścia. Sama kropka przy wyjściu symbolu bramki oznacza negację, więc bramka AND z zanegowanym wyjściem to właśnie NAND.