Podczas lokalizacji uszkodzeń w urządzeniu przetestowano stany logiczne, w wyniku czego stwierdzono, że uszkodzona jest bramka

Wyjaśnienie

Uszkodzona jest bramka OR, bo dla jej wejść widocznych na schemacie mamy stan 0 na jednym wejściu i stan 1 na drugim. Dla bramki sumy logicznej obowiązuje zależność Y=A+B, więc już jedna jedynka na wejściu powinna wymusić jedynkę na wyjściu. Tutaj na wyjściu tej bramki zaznaczono 0, czyli wynik jest sprzeczny z tablicą prawdy OR. Dalsza część układu tylko potwierdza ten trop: inwerter NOT z 0 robi 1, bramka AND przy wejściach 1 i 0 daje 0, a końcowa EX-OR dla 1 i 0 daje 1. Te elementy zachowują się logicznie poprawnie. W praktyce przy takiej diagnostyce idzie się po sygnale od wejść do wyjść, najlepiej sondą logiczną, oscyloskopem albo analizatorem stanów, i porównuje się wyniki z tablicą prawdy. Moim zdaniem to najprostszy i najpewniejszy sposób, bo nie zgadujemy uszkodzenia, tylko sprawdzamy zgodność funkcji z dokumentacją. Dobrą praktyką branżową jest też kontrola zasilania układu scalonego, masy, poziomów napięć TTL/CMOS oraz oznaczeń symboli według dokumentacji technicznej, np. zgodnie z zasadami zapisu symboli logicznych stosowanymi w schematach IEC 60617. Sama bramka może być fizycznie uszkodzona, ale czasem podobny objaw daje przerwana ścieżka, zimny lut albo wejście pozostawione w stanie nieustalonym, więc w realnym serwisie warto to jeszcze potwierdzić pomiarem na pinach układu.